在此應用中，殘余應力深度分(fen)布(bu)是從4毫米軸(zhou)承球(qiu)測量的。
問(wen)題：軸(zhou)承滾(gun)珠(zhu)上(shang)的殘余(yu)應力
可(ke)以用(yong)電化(hua)學(xue)方(fang)法(fa)從表面去除材(cai)料，并測(ce)量作(zuo)為深度(du)函數(shu)的(de)殘余應(ying)力來研究硬化(hua)鋼樣品的(de)次表面特(te)性。
例(li)如檢測?4mm球軸承的(de)殘余(yu)應力的(de)深(shen)度(du)剖(pou)面分布(bu)，為了滿足標準 EN 15305無損檢測標(biao)準，一般(ban)采用(yong)X 射線衍射法進行測試，同時需要選擇0.3毫米準(zhun)直器(qi)來測量。使用傳統的(de) X射(she)線衍射(she)設備一般(ban)單(dan)次測量需要(yao)1小時55分鐘。在殘余(yu)應力深度剖面中，通常進行(xing)4-6次單獨(du)的(de)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測量，同時需要(yao)在測量中對材料(liao)進行電解拋光。在三個(ge)方向測量殘(can)余(yu)應(ying)力(li)時，測量一(yi)個(ge)深度(du)剖面需要(yao)34.5小時。
檢(jian)測方(fang)法：X射線衍射法
在測量之前，將滾珠(zhu)固定在帶有化學金屬環氧樹(shu)脂填料的鋁塊上，以便保持與鋁塊的導電接觸，并且(qie)在深度測量期間鋼球保持靜(jing)止。
圖 1. 測量(liang)設置：軸承滾珠的殘(can)余應力測量(liang)
測(ce)量采用(yong)XStress DR45和XStress Studio軟(ruan)件完成(cheng)。集成(cheng)2D探測器沿(yan)著Debye-Scherrer 環（圖 2），3秒曝光時間內收集的衍射峰(feng)數(shu)據如圖3所示(shi)。在三個方向(xiang)測量(liang)(liang)(liang)殘(can)余(yu)應(ying)力時，每個深(shen)度測量(liang)(liang)(liang)點測量(liang)(liang)(liang)時間(jian)為3分(fen)鐘，這意味(wei)著每個深(shen)度剖面測量(liang)(liang)(liang)時間(jian)僅需要18分(fen)鐘。測量(liang)樣品殘余應(ying)力分(fen)布如圖4所示(shi)。
圖 2：檢測器數據(ju)
圖 3：綜(zong)合峰
測量結果(guo)
圖 4：軸承滾珠上的殘余應(ying)力深度分布
此(ci)應(ying)用(yong)所(suo)使(shi)用(yong)的儀器Xstress DR45為最新(xin)一代(dai)X射(she)線殘余應力分析儀，快速(su)(su)的檢測速(su)(su)度(du)提供了高(gao)質(zhi)量測量數據。
