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技術支持

坦佩雷大學的研究人員親自檢驗Xstress DR45 殘余應力分析儀
更新時間:2023-02-09   點擊次數:696次

Stressstech公司與大學和研究(jiu)機構合(he)作,收集關于如何進一步(bu)改善行業產品的信息(xi)。以下為坦佩(pei)雷(lei)大學的研究(jiu)人員對Xstress DR45進行了小光斑(ban)殘余應力測量。

2022年12月,Stressstech公司邀請坦佩雷大學(xue)的(de)(de)研究人員Suvi Santa-aho和Tapio Jokinen測試了Xstress DR45 殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力分析儀,對具有(you)挑戰性尺(chi)寸的(de)(de)零件(jian)進行殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力測量。該部(bu)件(jian)需要使用非常小的(de)(de)測量光(guang)斑(ban)尺(chi)寸。該實驗(yan)室有(you)一臺(tai)早期的(de)(de)Xstress G2R殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力分析儀,但對于有(you)些(xie)特殊形狀的(de)(de)樣品無(wu)法測量。


Suvi Santa-aho and Tapio Jokinen with Xstress Profile

來自(zi)坦佩雷大學的Suvi Santa-aho和(he)Tapio Jokinen

由(you)于測(ce)量(liang)(liang)的(de)區域如此(ci)之小(xiao),需要特殊的(de)小(xiao)準直儀。端部越小(xiao),曝(pu)光時(shi)間(jian)越長(chang)才能達(da)到良好的(de)強度。而(er)在坦佩雷沒有那么小(xiao)的(de)定制準直儀可(ke)用,而(er)且即便是有,測(ce)量(liang)(liang)時(shi)間(jian)也可(ke)能會很長(chang)。而(er)使(shi)用了Xstress DR45殘余應力分析儀測(ce)量(liang)(liang)后,結果很驚人,又快又準。

Suvi Santa-aho and Tapio Jokinen testing Xstress Profile

使用Xstress XY定位樣品

Suvi Santa-aho和(he)Tapio Jokinen說(shuo)到:我(wo)(wo)們非常感(gan)激測(ce)量(liang)成功。這款(kuan)定制的(de)(de)小準直儀端(duan)部工(gong)作(zuo)(zuo)良好,非常適合我(wo)(wo)們想要測(ce)量(liang)的(de)(de)小細節。這些結(jie)(jie)果(guo)為m.c.的(de)(de)工(gong)作(zuo)(zuo)結(jie)(jie)果(guo)提供(gong)了大量(liang)的(de)(de)研(yan)究成果(guo),有(you)助于我(wo)(wo)們更(geng)好地評估加工(gong)參數。而(er)且,測(ce)量(liang)軟件(jian)(Xstress Studio)與(yu)舊的(de)(de)XTronic軟件(jian)有(you)所不同,但(dan)很容易學習。我(wo)(wo)們接受(shou)了軟件(jian)方面的(de)(de)培(pei)訓,過了一段時間(jian)(jian),我(wo)(wo)們就可(ke)以(yi)自己輕松(song)地進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)了。結(jie)(jie)果(guo)文件(jian)以(yi)pdf格式存儲,我(wo)(wo)們可(ke)以(yi)在其中(zhong)獲取相(xiang)關結(jie)(jie)果(guo)并進(jin)行(xing)解釋。我(wo)(wo)發現Xstress DR45的(de)(de)操作(zuo)(zuo)真的(de)(de)很高效;隨著測(ce)量(liang)時間(jian)(jian)的(de)(de)縮(suo)短,與(yu)舊設備相(xiang)比(bi),我(wo)(wo)們可(ke)以(yi)在相(xiang)同時間(jian)(jian)內分析更(geng)多的(de)(de)樣品。

Xstress DR45的(de)技術水(shui)平在(zai)坦佩雷大(da)學獲得了良好的(de)反饋,這無(wu)疑更加(jia)大(da)了Stresstech公司的(de)信心,Xstress DR45的(de)檢測能力和(he)(he)工作效率是(shi)值(zhi)得選擇(ze)和(he)(he)參考的(de)。

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