芬蘭X射線衍射法殘余應力測試儀

• 更新(xin)日期：2024-04-25
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芬蘭X射線衍射法(fa)殘(can)余應(ying)力測試(shi)儀(yi)可快速、輕松分析齒輪、軸(zhou)承、軋輥、曲軸(zhou)、凸輪軸(zhou)、壓力容(rong)器管道以及其它一些零部件在熱處理、機加工、焊接、噴丸、滾(gun)壓等處理過程中產生(sheng)的(de)殘(can)余應(ying)力。

芬蘭X射線衍射法殘余應力測試儀可快速、輕松分析(xi)齒輪、軸承、軋輥、曲軸、凸(tu)輪軸、壓力(li)容器管道以及其它一些零部件(jian)在(zai)熱處(chu)(chu)理(li)、機加工、焊(han)接、噴丸(wan)、滾壓等處(chu)(chu)理(li)過程中產生(sheng)的殘余應力(li)。

北京華歐世紀(ji)光電技術有(you)限(xian)公司主要代理(li)各類(lei)殘(can)余應(ying)力(li)分析儀(yi)，磨削(xue)燒傷(shang)(shang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，齒(chi)輪(lun)-軸承-曲軸-凸輪(lun)軸表面(mian)燒傷(shang)(shang)質量檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，便攜(xie)式應(ying)力(li)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，巴(ba)克豪森噪聲法(fa)磨削(xue)燒傷(shang)(shang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)儀(yi)，磁彈儀(yi)等無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設備。用戶主要面(mian)向(xiang)航天、航空，石化、電力(li)，核工業、3D打印、鍋爐(lu)壓力(li)容器，機械(xie)加工與制造(zao)(zao)，汽車制造(zao)(zao)，科研機構，高校等。

芬蘭X射線衍射法殘余應力測試儀原理：

根據的是布拉格定律，使用X射線(xian)來(lai)測量殘余(yu)(yu)應力和殘余(yu)(yu)奧氏(shi)體。此設計主要是(shi)針(zhen)對應(ying)力測(ce)量(liang)用的，非常方(fang)便，對操作(zuo)者(zhe)來(lai)說也很(hen)安全。用戶可在測(ce)量(liang)中(zhong)的任何狀態(tai)下(xia)訪(fang)問所有測(ce)量(liang)和測(ce)量(liang)數(shu)據。可(ke)在(zai)實驗室使用(yong)，也可(ke)在(zai)戶外使用(yong)，攜帶方(fang)便，一個(ge)人就(jiu)可(ke)完成。只需要一個(ge)電源，從安裝到開始測量(liang)只需10分鐘左右。嵌入微軟處理器(qi)和通訊(xun)連接，把(ba)主(zhu)單元與(yu)計(ji)算機用(yong)一根電纜連接上(shang)，就(jiu)可進行(xing)其它擴展應用(yong)。

Stresstech Oy是生產便攜式X射線應力分析儀和X射(she)線衍射(she)法(fa)殘余(yu)應力(li)測(ce)試儀生產廠。在美國和德國設有工廠。

主要產(chan)品(pin)有：殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)，磨削燒傷檢(jian)(jian)測(ce)儀(yi)，激光小孔(kong)法應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)檢(jian)(jian)測(ce)儀(yi)，巴克(ke)豪(hao)森噪(zao)聲分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)，傳感器，常規檢(jian)(jian)測(ce)支架，X射(she)線(xian)(xian)衍射(she)儀(yi)和檢(jian)(jian)測(ce)支架，和小孔(kong)法殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)檢(jian)(jian)測(ce)儀(yi)。利用巴克(ke)豪(hao)森噪(zao)聲在多(duo)種不同領域對磁性(xing)屬(shu)性(xing)進行研究，確定缺陷存在與否和部件（像齒輪、軸(zhou)承、凸輪軸(zhou)、曲軸(zhou)、萬向接頭(tou)、活塞(sai)銷等）殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)等級。X-射(she)線(xian)(xian)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)運用的是(shi)X射(she)線(xian)(xian)衍射(she)技術來測(ce)量(liang)殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)和殘(can)余(yu)奧氏體含量(liang)。棱鏡系統基(ji)于(yu)鉆(zhan)孔(kong)技術來測(ce)量(liang)殘(can)余(yu)應(ying)(ying)力(li)(li)(li)(li)。