本文用x射線衍射法測定了鎂合(he)金(jin)樣(yang)品的殘余(yu)應力(li)。
問題
當材(cai)料晶粒(li)尺(chi)寸(cun)較(jiao)大或紋理較(jiao)多時，傳統的(de)(de)(de)(de)XRD殘余(yu)應力測量被(bei)推到(dao)了極限。通過使用耗(hao)時的(de)(de)(de)(de)傾(qing)斜和旋轉振蕩來獲得給定傾(qing)斜角度的(de)(de)(de)(de)更平均(jun)的(de)(de)(de)(de)峰值數(shu)據(ju)集，可以改善結果(guo)。然而，客(ke)戶需(xu)要一(yi)個(ge)更有效(xiao)的(de)(de)(de)(de)解決方案來測量鎂合金樣(yang)品上的(de)(de)(de)(de)殘余(yu)應力，具有挑戰性的(de)(de)(de)(de)衍射峰結果(guo)。
測試方(fang)法(fa)
測(ce)量使(shi)用(yong)了Xstress G3殘余(yu)應力分析儀(yi)(yi)和帶有雙探測(ce)器(Hamamatsu和Mythen)的(de)Xstress DR45殘余(yu)應力分析儀(yi)(yi)進(jin)行，DR45具有2D面探測(ce)器。在(zai)整(zheng)個(ge)測(ce)量過程中使(shi)用(yong)了3毫米(mi)準直儀(yi)(yi)。在(zai)一維探測(ce)器測(ce)量中，同時使(shi)用(yong)了傾斜振蕩和旋轉(zhuan)振蕩。沒有它們，就無法(fa)獲得衍射數(shu)據，而二維測(ce)量只需(xu)要(yao)傾斜振蕩。
無(wu)振蕩的一維探測(ce)器峰值數據(ju)。
圖1。無振(zhen)蕩的一維探測器峰值數據。
下面是使(shi)用DR45測(ce)量(liang)鎂樣品。
圖2。用(yong)DR45測定鎂樣品。
結果
2D探測(ce)器的原始(shi)數(shu)據(ju)(ju)顯示Debye-Scherrer衍(yan)射環中(zhong)有(you)明顯的不連續(圖3)，這解釋(shi)了為什么在1D探測(ce)器測(ce)量中(zhong)需要(yao)(yao)使用旋轉(zhuan)和傾斜振蕩。二(er)維(wei)探測(ce)器數(shu)據(ju)(ju)由沿衍(yan)射環的強度積分(fen)計算，只(zhi)需要(yao)(yao)傾斜振蕩就可以獲得足夠的數(shu)據(ju)(ju)。
來自(zi)Xstress DR45中二(er)維探測(ce)器的探測(ce)器數(shu)據。
圖(tu)3。DR45中二維探測器的探測器數據(ju)。
1D探測(ce)(ce)器的總測(ce)(ce)量(liang)時(shi)間(jian)為(wei)1h 49min。使用Mythen探測(ce)(ce)器，曝光時(shi)間(jian)可以(yi)從150s減少(shao)(shao)到30s，但由于所有必要的振蕩運動，總測(ce)(ce)量(liang)時(shi)間(jian)只(zhi)減少(shao)(shao)了(le)35%。使用2D探測(ce)(ce)器的DR45在3分鐘(zhong)內完成了(le)測(ce)(ce)量(liang)(表(biao)1)。
